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Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學(xué)測量系統(tǒng)

主要特色：

• 適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測
• 使用3D光學(xué)探頭，進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析
• 使用陶瓷吸附平臺，可將待測物吸附於平臺上使表面平整，亦不對待測物造成皺褶或破損
• 3D厚度量測範(fàn)圍大
• 可量測透明材質(zhì)
• 高靜態(tài)量測重複精度
• 高動態(tài)量測重複精度
• 具備腳本功能可進行自動量測

Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學(xué)檢測系統(tǒng)主要整合3D光學(xué)探頭，進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析，適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測。同時配備陶瓷吸附平臺，可將待測物吸附於平臺上使表面平整，亦不對待測物造成皺褶或破損，3D厚度量測範(fàn)圍大、設(shè)備靜態(tài)重複精度高與設(shè)備動態(tài)重複精度高，具備Recipe功能可進行自動量測，此外系統(tǒng)亦提供檢測數(shù)據(jù)資料的存檔功能，供後續(xù)操作人員處理分析使用。

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